小麥品質分析和面粉麩星檢測儀
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產品名稱:
小(xiao)麥品質分析和面粉麩星檢測儀(yi)
產品型號:
DSF-III
產品展商:
杭州(zhou)大吉光電儀(yi)器(qi)有(you)限公司
關注指數:1348
產品文檔:
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小麥品質分析和面粉麩星檢測儀用途：快速測量小麥的粒數、千粒重、粒形、霉變率、芽麥率、黑胚率、破損率等，面粉的麩星、砂石的大小和含量。小麥品質分析和面粉麩星檢測儀用于實驗室快速檢測獲得批處理數據（包括小麥粒數、千粒重、籽粒形狀、籽粒整齊度或飽滿度、籽粒顏色、霉變率、芽麥率、黑胚率、破損率等；面粉的麩星、砂石的大小和含量）。小麥品質檢測方法符合GB/T 5504-2011《糧料檢驗 小麥粉加工精度檢驗》、GB/T 27628-2011《糧油檢驗 小麥粉粉色、麩星的測定》中的小麥粉麩星測定方法。
小麥品質分析和面粉麩星檢測儀
的詳細介紹
小麥品(pin)質分(fen)析(xi)和面粉麩星(xing)檢測儀用(yong)途：
快速測(ce)量小(xiao)(xiao)麥(mai)的(de)(de)粒(li)(li)數、千粒(li)(li)重、粒(li)(li)形、霉變(bian)率(lv)(lv)、芽麥(mai)率(lv)(lv)、黑(hei)胚(pei)率(lv)(lv)、破(po)損率(lv)(lv)等(deng)，面粉(fen)(fen)(fen)的(de)(de)麩(fu)星、砂石的(de)(de)大小(xiao)(xiao)和含量。用于實(shi)驗室快速檢(jian)測(ce)獲得(de)批(pi)處理(li)數據（包括小(xiao)(xiao)麥(mai)粒(li)(li)數、千粒(li)(li)重、籽(zi)粒(li)(li)形狀、籽(zi)粒(li)(li)整(zheng)齊度(du)或飽滿度(du)、籽(zi)粒(li)(li)顏色、霉變(bian)率(lv)(lv)、芽麥(mai)率(lv)(lv)、黑(hei)胚(pei)率(lv)(lv)、破(po)損率(lv)(lv)等(deng)；面粉(fen)(fen)(fen)的(de)(de)麩(fu)星、砂石的(de)(de)大小(xiao)(xiao)和含量）。小(xiao)(xiao)麥(mai)品質檢(jian)測(ce)方法符合GB/T 5504-2011《糧(liang)料檢(jian)驗 小(xiao)(xiao)麥(mai)粉(fen)(fen)(fen)加工(gong)精度(du)檢(jian)驗》、GB/T 27628-2011《糧(liang)油檢(jian)驗 小(xiao)(xiao)麥(mai)粉(fen)(fen)(fen)粉(fen)(fen)(fen)色、麩(fu)星的(de)(de)測(ce)定(ding)》中(zhong)的(de)(de)小(xiao)(xiao)麥(mai)粉(fen)(fen)(fen)麩(fu)星測(ce)定(ding)方法。
小麥品(pin)質分析和(he)面(mian)粉麩星檢測儀儀器特點：
儀器由(you)光學(xue)成像(xiang)(xiang)系(xi)統、智能分(fen)(fen)(fen)析(xi)軟(ruan)件(jian)、220g量(liang)程1mg精度電子天平組成。系(xi)統具有(you)**的(de)自學(xue)習能力，實現(xian)人性化(hua)的(de)一鍵(jian)式智能分(fen)(fen)(fen)析(xi)，并可(ke)交(jiao)互(hu)修正(zheng)個(ge)別的(de)分(fen)(fen)(fen)類錯誤點，以達到(dao)100%正(zheng)確分(fen)(fen)(fen)類結(jie)果(guo)。該分(fen)(fen)(fen)析(xi)系(xi)統能大(da)批量(liang)處理，自動(dong)分(fen)(fen)(fen)析(xi)300個(ge)以上小麥(mai)和面(mian)粉樣品(pin)的(de)高(gao)分(fen)(fen)(fen)辨率圖(tu)像(xiang)(xiang)。由(you)**軟(ruan)件(jian)分(fen)(fen)(fen)析(xi)成像(xiang)(xiang)后的(de)彩(cai)色/圖(tu)像(xiang)(xiang)，準(zhun)確、快速(su)地測定小麥(mai)的(de)粒(li)數(shu)(shu)(shu)(shu)、千粒(li)重、籽粒(li)形(xing)狀、籽粒(li)整齊度、籽粒(li)飽滿度（即：可(ke)按面(mian)積(ji)自動(dong)排序及輸(shu)出）、籽粒(li)顏色、霉變(bian)率、芽麥(mai)率、黑胚率、破損率等指標，以及面(mian)粉中的(de)麩(fu)星粒(li)數(shu)(shu)(shu)(shu)和大(da)小、麩(fu)星面(mian)積(ji)比和對應的(de)砂石占比。軟(ruan)件(jian)能讓用戶實時看到(dao)真實樣品(pin)分(fen)(fen)(fen)析(xi)過(guo)程情況，并交(jiao)互(hu)修正(zheng)；當(dang)面(mian)粉指標偏離設定參數(shu)(shu)(shu)(shu)時，可(ke)報警顯示；用戶可(ke)隨(sui)意查詢(xun)檢測結(jie)果(guo)，并打印。所有(you)測試圖(tu)像(xiang)(xiang)分(fen)(fen)(fen)析(xi)結(jie)果(guo)和數(shu)(shu)(shu)(shu)據可(ke)在電腦上顯示并保存。數(shu)(shu)(shu)(shu)據準(zhun)確可(ke)靠，結(jie)果(guo)穩定、重復(fu)性高(gao)；樣品(pin)可(ke)重復(fu)測試，重現(xian)性高(gao)。
小麥品(pin)質分析和面粉麩星檢測儀主要性能指標*：
分析面積：小麥為A4紙幅(fu)面；面粉為(wei)35mm×35mm
測量時間：小(xiao)麥≤2分鐘/樣(yang)品；面(mian)粉≤1分鐘/樣(yang)品視野。
小麥(mai)千粒重測(ce)量重復性誤差±≤0.5%
兩(liang)次(ci)掃描單面分析(xi)外觀品質的重復性誤差(cha)±≤2.0%
可接入條碼(ma)槍來自動刷(shua)入樣品編(bian)號，分(fen)析(xi)(xi)結果(guo)可對應樣品編(bian)號輸出至(zhi)EXCEL表(biao)，分(fen)析(xi)(xi)圖(tu)像標(biao)記(ji)結果(guo)可保(bao)存。
小麥品質(zhi)分析(xi)和面粉麩星檢測儀(yi)儀器規格(ge)配置：
帶RS232線電子(zi)天平(ping)（220g量程、1mg精度）1臺(tai)(tai)，LED光(guang)(guang)源(yuan)、*高光(guang)(guang)學分(fen)辯率4800×9600dpi雙光(guang)(guang)源(yuan)彩色掃描儀1臺(tai)(tai)，單目(mu)體視(shi)顯微(wei)鏡(jing)+300萬像(xiang)素相機(ji)1套、微(wei)型手動移(yi)動平(ping)臺(tai)(tai)1套，小麥(mai)外觀品質分(fen)析、面粉(fen)麩星檢測軟(ruan)件光(guang)(guang)盤1張（含電子(zi)版(ban)操作手冊）、軟(ruan)件鎖1只，籽粒收(shou)納盤1個，緊粉(fen)用面粉(fen)成像(xiang)小盤1付。（電腦需另配）
儀器總尺(chi)寸、總重量：寬×深×高約50cm×40cm×12cm，～13kg。